内容简介
本书内容主要包括四大部分,共十一章。第一部分介绍倒易点阵基础知识和电子衍射基本原理;第二部分着重介绍了单晶电子衍射图的分析标定及电子衍射分析的应用;第三部分阐述了晶体薄膜的衍射衬度理论,以及晶体缺陷和合金中第二相的衬度及分析方法;第四部分介绍了几种实用的透射电镜分析技术。
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本书内容主要包括四大部分,共十一章。第一部分介绍倒易点阵基础知识和电子衍射基本原理;第二部分着重介绍了单晶电子衍射图的分析标定及电子衍射分析的应用;第三部分阐述了晶体薄膜的衍射衬度理论,以及晶体缺陷和合金中第二相的衬度及分析方法;第四部分介绍了几种实用的透射电镜分析技术。